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NEW! Vitesse ! Time-of-Flight ICP-MS
Vitesse是感應耦合電漿飛行時間質譜儀，適合雷射剝蝕影像(laser ablation imaging)與奈米粒子(nanoparticle)分析等等的高速多元素應用。多元的樣品進樣配件也可以進行一般的ICP-MS分析。
商品特色:
- 可探測固體樣品中奈米級微量元素特徵的高靈敏度，並測定單個奈米顆粒的元素組成。
- 具有高解析度的飛行時間質譜儀(TOF)，具有無干擾分析的能力。
- 獨特的四級棒(quad)，反應槽(cel)，飛行時間質譜(TOF)選項，多種消除干擾的選擇性。
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